千歳市（北海道）、機械/電気/電子製品専門職、リモート面接OKの転職・求人情報

経験・資格 【資格】 不問 【経験】 半導体製造装置の保守メンテナンス経験

必要な経験・能力等 【必須】大学・大学院相当の機械工学、電子工学いずれかの基礎知識(社会人経験3-5程度を想定)【歓迎】自動車業界での技術業務、ハード設計、IC（アナログ回路）設計、実装設計や機構設計（製造設計）等のご経験 【キャリアパス】 入社後2～3年程度は、量産流用設計業務を中心に担当いただき、製品や設計の基礎を身につけていただきます。 その後は本人の志向や適性を踏まえながら、開発業務や品質保証、生産技術業務に関わりつつ、幅広くエンジニアとしての領域を広げることが可能です。 学歴・資格 学歴：大学院 大学 高専 語学力： 資格：

必要な経験・能力等 【必須条件】※半導体業界経験は必須となります・半導体製造・測定・解析・工程改善などの実務経験・MES、測定機器、製造装置の操作経験 ・データ解析・報告書作成スキル・チームでの技術的課題解決経験 【募集の背景】現在、ポスト5Gを支える次世代半導体（2nm世代）の開発・製造において、日本と米国・欧州の技術を融合した国家プロジェクトが進行中。その中核を担う先端工場で、経験者を対象とした技術職を募集します。【具体的な業務内容】 次世代半導体開発プロジェクトにおいて、これまでのご経験やキャリア、知識を考慮して下記何れかの業務をお任せします。 学歴・資格 学歴：大学院 大学 高専 短大 専修学校 高校 語学力： 資格：

必要な経験・能力等 【必須】■設計経験が10年以上ある方 ■次のいずれかの経験：アナログLSIのFE設計/アナログLSIのBE設計/デジタルLSIのFE設計/デジタルLSIの論理回路設計/LSIの評価解析/FPGAのFE設計/ 高周波の回路設計/ボードの回路設計 【歓迎】 ■リーダーまたはマネージャー経験 ■顧客への提案、技術コンサルティング経験 学歴・資格 学歴：大学院 大学 高専 短大 専修学校 高校 語学力： 資格：

必要な経験・能力等 【いずれか必須】■化学・バイオ・メディカル系のエンジニア経験のある方 ■半導体関連業務の経験のある方 ■品質管理・分析業務経験のある方 ■取得可能な技術：Etching、Ashing、チャック交換、Easy Teaching、膜厚測定、Etch Rate、Etch Temp、AFM、Particle測定、chip割り、Rocket測定、Dino Lite撮影、プラズマ撮影等 ■使用可能機器：Chamber、膜厚測定器、Etch Rate、Etch Temp、AFM、Particle測定器、移載機等 ※上記以外にも配属する部署によって変更となる可能性もございます。 学歴・資格 学歴：大学院 大学 高専 短大 専修学校 高校 語学力： 資格：

必要な経験・能力等 【必須条件】※半導体業界経験は必須となります・半導体製造・測定・解析・工程改善などの実務経験・MES、測定機器、製造装置の操作経験 ・データ解析・報告書作成スキル・チームでの技術的課題解決経験 【募集の背景】現在、ポスト5Gを支える次世代半導体（2nm世代）の開発・製造において、日本と米国・欧州の技術を融合した国家プロジェクトが進行中。その中核を担う先端工場で、経験者を対象とした技術職を募集します。【具体的な業務内容】 次世代半導体開発プロジェクトにおいて、これまでのご経験やキャリア、知識を考慮して下記何れかの業務をお任せします。 学歴・資格 学歴：大学院 大学 高専 短大 専修学校 高校 語学力： 資格：

必要な経験・能力等 【いずれか必須】■評価・試験の実務経験のある方 ■化学・バイオ・メディカル系のエンジニア経験のある方 ■品質管理・分析業務経験のある方 ■取得可能な技術：Etching、Ashing、チャック交換、Easy Teaching、膜厚測定、Etch Rate、Etch Temp、AFM、Particle測定、chip割り、Rocket測定、Dino Lite撮影、プラズマ撮影等 ■使用可能機器：Chamber、膜厚測定器、Etch Rate、Etch Temp、AFM、Particle測定器、移載機等 ※上記以外にも配属する部署によって変更となる可能性もございます。 学歴・資格 学歴：大学院 大学 高専 短大 専修学校 高校 語学力： 資格：

必要な経験・能力等 【いずれか必須】■化学・バイオ・メディカル系のエンジニア経験のある方 ■半導体関連のエンジニア経験のある方 ■品質管理・分析業務経験のある方 ■取得可能な技術：Etching、Ashing、チャック交換、Easy Teaching、膜厚測定、Etch Rate、Etch Temp、AFM、Particle測定、chip割り、Rocket測定、Dino Lite撮影、プラズマ撮影等 ■使用可能機器：Chamber、膜厚測定器、Etch Rate、Etch Temp、AFM、Particle測定器、移載機等 ※上記以外にも配属する部署によって変更となる可能性もございます。 学歴・資格 学歴：大学院 大学 高専 短大 専修学校 高校 語学力： 資格：